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用RF溅射制备厚度为200 nm的Fe-N薄膜在250℃, 12000 A/m磁场下真空热处理后,当N含量在5%~7%(原子百分数)范围内形成α′+α″相时,4πMS可达2.4 T,Hc<80 A/m, 2~10 MHz下高频相对导磁率μr=1500,可满足针对10 Gb/in2存储密度的GMR/感应式复合读写磁头中写入磁头的需要. Fe-N系薄膜中α′相的形成机理和点阵常数与块状试样按Bain机理形成的α′相有明显的差别,得到了薄膜中α′相的a,c与Cα′N之间的线性关系式.