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【摘 要】
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模拟电路的性能紧密依赖于版图的寄生参数和匹配特性。提出了用以描述分布式的寄生电容和由于工艺梯度变化而产生的寄生参数不匹配以及STACK内连线的不匹配的模型。基于该模
【机 构】
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复旦大学电子工程系CAD室,美国德州大学达拉斯分校电机系
【出 处】
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半导体学报
【发表日期】
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2001年1期
【基金项目】
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国家自然科学基金委支持的海外年青科学家合作项目! ( 6 992 840 2 ) ,,国家自然科学基金! ( 6 980 6 0 0 4) ,,教育部大学关键师资基
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