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【摘 要】
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在MCP输入端通道内壁制作了反射式X射线敏感膜层,提高了MCP对能量35～50kev X射线的探测能力.实验结果表明:变密度结构的CsI/MCP中膜层结构较密实时,其输出响应可提高5～6倍,较无
【机 构】
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长春理工大学光电子技术研究所
【出 处】
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发光学报
【发表日期】
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2002年5期
其他文献
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