干扰元素加入法及其在电感耦合等离子体质谱法同位素分析中的应用

• 作 者: 周国庆 朱凤蓉 李梅 俞江 董宏波 万可友
• 机 构: 西北核技术研究所(陕西西安)
• 出 处: 中国质谱学会第七届会员代表大会暨学术报告会
• 发表日期: 2004年10期
• 关键词: 同位素分析 干扰元素 质谱法测量

在有同质异位素干扰的情况下,通常从所测质谱峰中直接扣除叠加的同质异位素峰,获得同位素丰度比.这种方法适用于干扰元素存在两个以上的同位素,需丰度比已知.本工作拟已Yb存在的情况下测定<176>Lu/<175>Lu的同位素比值为例(存在<176>Yb对<176>Lu的干扰),探讨在有同质异位素干扰下用ICP-MS测定同位素比的方法.