【摘 要】
:
本文采用双靶(ZnSb靶和Ge2Sb2Te5靶)共溅射制备了系列ZnSb掺杂的Ge2Sb2Te5(GST)薄膜.利用X射线衍射、透射电子显微镜、原位等温/变温电阻测量、X射线光电子能谱等测试研究了薄膜
【机 构】
:
宁波大学高等技术研究院,宁波大学信息科学与工程学院
【基金项目】
:
国家自然科学基金(批准号:61377061,61306147), 浙江省公益技术研究工业项目(批准号:2014C31146), 浙江省中青年学科带头人学术攀登项目(批准号:pd2013092), 宁波大学王宽诚幸福基金资助, 浙江省自然科学基金(批准号:LQ15F040002)资助的课题