【摘 要】
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采用后硒化Cu-Zn-Sn-S电沉积预制层的方法制备了铜锌锡硫硒薄膜,其中Cu-Zn-Sn-S预制层是通过含有不同浓度的硫代硫酸钠电解液电沉积而成的.实验发现,硒化前后薄膜的性质与硫
【机 构】
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华东师范大学电子工程系极化材料与器件教育部重点实验室,上海太阳能电池研究与发展中心,中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室
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采用后硒化Cu-Zn-Sn-S电沉积预制层的方法制备了铜锌锡硫硒薄膜,其中Cu-Zn-Sn-S预制层是通过含有不同浓度的硫代硫酸钠电解液电沉积而成的.实验发现,硒化前后薄膜的性质与硫代硫酸钠浓度密切相关.SEM,EDS,XRD,Raman和透射光谱分析表明,当硫代硫酸钠的浓度为5 mM时,沉积的薄膜形貌平整,晶粒明显,组分贫锌,具有单一的铜锌锡硫硒结构,且其带隙为1.11 eV；在浓度高于5 mM下沉积的薄膜形貌粗糙并产生杂相硒化锡；在浓度低于5 mM下沉积的薄膜组分严重贫锌并生成大量的Cu2 SnSe3.
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