一种新的红外折射率测量公式的建立与分折

• 作 者: 许世文 于洪利
• 机 构: 哈尔滨工业大学光学仪器教研室,哈尔滨工业大学光学仪器教研室
• 出 处: 哈尔滨工业大学学报
• 发表日期: 1988年01期
• 关键词: 折射率测量 红外探测 斯托克斯 菲涅耳 光强 反射光 涅尔 线偏振光 精度分析 测量精度

本文利用菲涅耳方程式[2],在入射角θ_1=45°情况下,直接导出一种新的测量折射率的公式,与Collett用斯托克斯参量和Mueller矩阵推导的结果完全相同[1]。分析了用此公式进行测量可达到的精度。

In this paper, we use Fresnel equation [2] to directly derive a new formula for measuring the refractive index at θ_1 = 45 ° angle, which is exactly the same as Collett’s derivation with Stokes parameters and Mueller matrix [1 ]. The accuracy achievable with this formula is analyzed.