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用X光衍射仪测量晶格常数已有一套较完整的理论误差修正公式。[1]但在一些特殊情况下,如利用高低温装置进行测量时,由于热胀冷缩等原因,样品表面将显著偏离X光平面,此时原有的误差修正公式已不能满足测量的需要。笔者在Y-2A型X光衍射仪上进行了一系列模拟试验。找到了一个新的误差修正项,用此误差修正项修正时,在Y—2A型X光衍射仪上,可使误差范围σ<5×10~(-4)A°,