电子探针分析方法及其在电接触材料研究中的应用

• 作 者: 吴春萍 王鸿宇 翁桅 李素华 周孑民 易丹青 徐国富
• 机 构: 中南大学材料科学与工程学院有色金属材料科学与工程教育部重点实验室,福达合金材料股份有限公司,中南大学能源科学与工程学院
• 出 处: 电工材料
• 发表日期: 2014年4期
• 关键词: 电子探针 工作原理 电接触材料 EPMA working principle electrical contact materials
• 基金项目: 湖南省自然科学杰出青年基金资助项目（14JJ3014）, 中国博士后科学基金项目（2012M521542）, 浙江省博士后科研择优资助项目（Bsh1202）, 中央高校基本科研业务专项基金资助（2012QNT003）, 国家科技支撑计划课题（2014BAC03B05）

电子探针是在电子光学和X射线光谱学原理的基础上发展起来的一种高效率分析仪器。为了使材料研究者更好地了解电子探针的分析功能和利用电子探针进行材料的研究与分析,本文介绍了JXA-8230型电子探针工作原理和主要分析方法,并采用电子探针对AgNi触头材料进行了定性、定量和元素面扫描分析。结果表明,AgNi触头中除了含有Ag和Ni元素外,还含有少量的C和W元素,其中W元素主要分布在Ni相中。