真型开关模拟缺陷下的局部放电试验研究

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由于目前开关柜带电检测数据多为间接状态量,难以直接反映开关柜内部局部放电量的大小,容易造成对缺陷的误判.为此利用真型开关柜搭建了开关柜缺陷模拟试验装置,首先利用该装置模拟针板放电缺陷,采用超声波检测法(AE)、暂态地电位检测法(TEV)、特高频检测法(UHF)与脉冲电流法(PC)的比对找出针板放电的规律,包括带电检测信号的典型图谱以及与局部放电量对应关系.最后针对该装置提出了后续的研究范围.
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