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在精密度要求较高的图像测量领域中，CCD灵敏度的不均匀对测量精度有较大的影响。因此，提出了一种基于小孔衍射原理的高斯曲面拟合像面光场测量CCD灵敏度均匀性的方法。由于CCD自身的物理结构设计不均匀性、响应非线性以及暗电流等噪声因素使得光响应偏离实际值，该方法通过对CCD像面上感兴趣光场域进行高斯曲面拟合来确定零点像素的灰度响应。对所有像素测量完成之后通过归一化即可计算出CCD灵敏度均匀性。实验结果表明：对所使用的CCD47—10系列，计算其CCD灵敏度均匀性为2．14％。该测量方法基本满足设计原理简单、稳