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近日，科学服务领域的世界领导者赛默飞世尔科技（以下简称：赛默飞）亮相成都第24届国际集成电路物理与失效分析研讨会（IPFA2017），并发布三款用于半导体失效分析工作流程的全新产品，旨在帮助半导体故障分析实验室提升处理试样和获取数据的效率，为寻求快速、高质量的电性和物理失效分析的半导体制造商提供创新解决方案。