【摘 要】
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主要介绍了 CMOS电路的 IDDQ测试技术。该技术的实现方法有两种 :一种是片内 IDDQ测试 ;另一种是片外 IDDQ测试。前一种是在被测芯片内 ,设计一个电流传感器。后者是在被测芯
【机 构】
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主要介绍了 CMOS电路的 IDDQ测试技术。该技术的实现方法有两种 :一种是片内 IDDQ测试 ;另一种是片外 IDDQ测试。前一种是在被测芯片内 ,设计一个电流传感器。后者是在被测芯片外的负载板上附加一个小电路 ,变 IDDQ为电压测试 ,从而达到IDDQ测试的目的
Mainly introduces IDDQ testing technology of CMOS circuit. There are two ways to implement this technique: one is on-chip IDDQ testing; the other is off-chip IDDQ testing. The former is in the chip under test, the design of a current sensor. The latter is in addition to the chip under test chip attached to a small circuit, variable IDDQ for voltage testing, so as to achieve the purpose of IDDQ test
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