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利用中科院长春光机所 ZG—3显微物镜杂光测定仪,测量大量显微物镜的杂光特性,从而提出用杂光系数 VGI 和表征杂光系数 VGI(NA_c)描述显微物镜杂光特性。还介绍了我们对仪器中的可变测量参数,如目标板限制光阑孔径,离焦等因素对测量结果的影响方面所作的实验和分析。最后提出了我们对显微物镜杂光特性测量与评价标准化的建议。