论文部分内容阅读
悔特勒－托利多XS分析天平自问世以来，受到了众多专家及用户的一致好评，并在2004年荣获了由美国著名科技杂志《R＆D》颁发的R＆D100大奖。为庆祝XS分析天平荣获R＆D100大奖5周年，回报并感谢广大中国用户对梅特勒－托利多天平产品的一贯支持，同时使来自瑞士梅特勒一托利多的中文触摸屏和易巧称量组件等创新称量技术不断的服务中国用户，让中国用户更深入的了解“良好的称量管理规范（GWP）“，特推出以下系列促销活动。