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两类挠率源被讨论，它们分别是宏观转动和排列自旋．在狄拉克粒子作为直接探测体，挠率自旋效应的测量受到较大背景的强烈限制，它们是磁自旋和转动自旋．增加挠率源等价于增加背景本身．因此，新发现的有挠引力结论是，任何狄拉克粒子实验没有希望给出挠率的直接证据，这排除了很多有希望的挠率测量建议．最近提出的挠率间接证据被评论．