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为了得到满足应力约束的膜结构的最优设计,根据满应力准则和静定化假设对应力约束下的膜结构的截面进行了优化设计. 以膜单元的设计厚度与初始厚度的比值为设计变量,通过设计变量的量纲一化实现了设计变量的连接. 用MSC.PCL (Patran command language) 语言对MSC.Nastran&Patran软件进行二次开发,完成了膜结构优化程序. 算例证明了程序算法的可靠性和高效性.