【摘 要】
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该文提出了一种有效的工作于RT级的VHDL描述的测试生成方法和一个相对应的故障模型,这种测试方法是基于模拟的,用一个VHDL的模拟器和一个遗传算法相结合的方法来生成测试码序
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该文提出了一种有效的工作于RT级的VHDL描述的测试生成方法和一个相对应的故障模型,这种测试方法是基于模拟的,用一个VHDL的模拟器和一个遗传算法相结合的方法来生成测试码序列,模拟器的主要作用是返回测试码序列的模拟信息,而遗传算法的主要作用是利用模拟器的返回信息,提高测试码序列的符合度,符合度函数是用来衡量测试码序列优劣的唯一标准.对ITC’99的模拟显示了这种方法的有效性.我们相信将遗传算法应用到RT级的测试可以获得较高的故障覆盖率,可以使得设计人员完全转到较高的RT级来完成他们日常的一些工作.
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