金属固体在重离子轰击下发射的特征X射线的能移研究

• 作 者: 宋张勇
• 机 构: 中国科学院近代物理研究所
• 出 处: 中国科学院近代物理研究所
• 发表日期: 2007年期
• 关键词: 粒子物理 重离子轰击 金属薄靶 X射线能移

本研究使用ORTEC公司生产HPGe探测器测量了84MeV的12C1+重离子轰击系列金属箔生成的特征X射线，研究了金属薄靶Ag、Cd、In和Sn产生的特征KX射线的能移现象。实验发现Ag、Cd、In和Sn的Kαl和Kα2X射线没有明显的能移现象，而Kβ1X、Kβ2X射线的能移却有100～200eV。对此，应用经典电磁理论详细地解释了该问题。在多组态Dirac—Fock(MCDF)程序计算的单空穴能移的基础上，分别根据实验中测量的特征KX射线的能移值和“几何”模型研究了重离子轰击下Ag、Cd、In和Sn的L、M壳层的多重电离。另外，在相同的条件下，实验测量的厚靶Au的特征LX射线能移不明显，而薄靶Au的特征LX射线却有1.5keV以上的能移。