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该文简要介绍了光栅检测装置在国内外的发展动态及光栅测长的基本原理,对比分析了一些莫尔条纹细分方法的优缺点,并进而提出了采用大规模在系统可编程(ISP)器件来实现集成化设计方案.随着在系统可编程技术的发展及日趋成熟,利用可编程逻辑器件(PLD)进行大规模电路的集成化设计成为可能.文中将当今最流行的系统设计技术VHDL和在系统可编程(ISP)逻辑器件作一简要介绍,并介绍了一种基于光栅莫尔条纹细分理论和ASIC(专用集成电路)设计理论的高集成度的光栅数显装置.