【摘 要】
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超大规模集成电路的快速发展给集成电路测试理论与技术提出了许多亟待解决的新问题.上前数字集成电路的设计主要是采用统计方法而非最坏情况的设计方法,其优点在于以少许芯片
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超大规模集成电路的快速发展给集成电路测试理论与技术提出了许多亟待解决的新问题.上前数字集成电路的设计主要是采用统计方法而非最坏情况的设计方法,其优点在于以少许芯片产量的损失换得芯片工作速度的极大提高,这就必须通过时滞测试来把时间延迟过大的元件替换下来;并且许多通过了基于呆滞型故障模型的逻辑测试的芯片,装机后会出现时序错误,这只有通过时滞测试才能检测到.因此时滞测试技术的研究是国内外广泛关注的热点之一.另一方面,现有的逻辑测试生成方法在解决超大规模集成电路的测试生成时存在一定的困难,因此必须进一步提高逻辑测试生成算法的效率.该文的研究工作主要围绕时滞测试和提高逻辑测试生成算法的效率来展开.所作的工作和贡献主要放映在以下几方面:1、在时滞测试研究中,该文通过理论分析和实例验证,指出该时滞测试能量函数并不适宜于无冒险强健测试生成;2、由于无冒险强健时滞测试在时滞故障诊断中是必须的,该文以简洁的方式导出了无冒险条件下的时滞测试能量函数,理论和实验证明,该能量函数能有效地解决无冒险强健时滞测试的生成,它进一步完善了Chakradhar提出的时滞测试能量函数;3、在时滞测试生成的能量函数方法中,该文对标准遗传算法进行了改造,提出了一种自适应遗传算法来解决强健时滞测试生成,该算法建立了根据进化程度调整群体尺寸的启发策略来加速测试生成,并且在初始群体的选择上充分利用了强健时滞测试的特点以取得优良的初始群体;4、该文根据门时滞故障测试的特点,首次提出了门时滞故障的可测性测度和相应的计算方法,并取得了部分实验结果;5、在逻辑测试生成过程中,尽早识别冗余故障是提高测试生成算法效率的有效措施之一.该文提出了一种有效的识别冗余故障的方法.该方法首先划分电路内的扇出重汇聚区域,然后在扇出重汇聚区域采用集合运算的方式来识别冗余故障.
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