机载电子设备可靠性鉴定试验研究

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该文对指数分布可靠性鉴定试验进行了全面论述,包括综合环境条件的确定和统计试验方案的选取,并针对工程实践中提出的有关问题开展了专题,最后,利用空军"八五"期间12项机载电子设备共40台套设备累计15622 台时的试验数据,对可靠性鉴定试验结果、千元器件可靠性水平、故障及其发生时机、故障原因分类等进行了综合分析,并对试验方案的选取进行了对比研究.分析结果,平均每千元器件设备的可靠性下限估计达到727小时, 且随着设备复杂性提高,元器件数每增加一千,下降约330小时, 元器件失效引起设备故障占总故障的43.4﹪.对目前机载电子设备来说,方案17是比较适宜的鉴定试验方案, 方案6与方案17具有比较好的一致性.
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