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目的通过对新生儿期发生低血糖患儿进行随访研究,探讨新生儿期低血糖所致脑损伤的相关危险因素,分析新生儿低血糖性脑损伤的影像学特征和电生理改变,期望为新生儿期低血糖的临床早期诊断、规范治疗和预后判断提供依据。方法随访2002—2008年间复旦大学附属儿科医院新生儿科出院诊断为低血糖的71例患儿(除外核黄疸、严重的先天性感染、复杂型先天性心脏病、脑发育不良、脑部外伤、染色体异常等引起脑损伤的其他混杂疾病)。按照有无合并围产期缺血缺氧史分为为低血糖无缺氧缺血组和低血糖合并缺氧缺血组,对其进行头颅MRI、脑电图(EEG)、视觉诱发电位(VEP)和智力测试检查,并设正常对照组进行智力测试检查。将随访结果与患儿的围生期情况(孕周、出生体重、分娩方式、母亲有无妊娠相关疾病)、低血糖的伴随症状(抽搐、激惹抖动、反应欠佳、吸吮无力)、低血糖程度(低血糖初发时间、初发低血糖值、低血糖持续时间、低血糖的发作次数)、新生儿期辅助检查结果(新生儿期头颅CT或MRI、EEG、VEP)进行比较。采用SPSS16.0软件进行统计分析,用多因素logistic回归分析研究新生儿期低血糖性脑损伤的危险因素。结果(1)低血糖组智力发育水平较正常组显著落后:低血糖初发时间是脑损伤的独立危险因素,低血糖初发时间越晚,脑损伤发生的风险越大,当低血糖初发时间＞12h其远期发生脑损伤的风险显著升高(OR10.59)。(2)低血糖性脑损伤的主要影像学异常表现为顶枕叶受累(30%左右);新生儿期枕叶受损不可逆,枕叶受损一旦出现、远期则较难恢复正常(OR15.63)。低血糖伴随抽搐、低血糖初发时间＞12h、低血糖发作次数≥5次者发生枕叶受损的风险较高,但并非其独立危险因素。DWI检查可以较常规MRI更早地反应有无低血糖引起的枕叶损伤,胼胝体压部可能是低血糖引起的一过性损伤。(3)新生儿期低血糖的脑电生理表现缺乏特异性:低血糖初发水平越低、越易导致大脑皮层功能广泛受抑;新生儿期EEG异常组远期更易发生非可逆性的大脑后部EEG损伤(OR7.33),故临床应重视对于低血糖初发水平较低患儿的首次规范治疗。早期EEG检查可以反应新生儿期低血糖严重程度、对于远期是否出现大脑后部的受损具有一定的应用价值。(4)随访VEP异常对于智力发育落后具有一定的预测价值(OR6.33)。非适于胎龄儿(OR5.75)、低血糖初发水平≤1.1mmol/L(OR4.70)、低血糖发作次数≥5次(OR4.70)是VEP分化异常的独立危险因素。VEP检查可以较早地反应有无低血糖引起的枕叶视觉皮层功能损伤。结论(1)对于低血糖初发时间较晚(＞12h)、初发水平较低(≤1.1mmol/L)患儿临床应重视首次治疗,积极控制血糖水平的稳定、减少低血糖的发生次数(≤4次),以减少低血糖性脑损伤的发生。(2)对于低血糖新生儿,早期行VEP、EEG、MRI检查将有助于判断低血糖性脑损伤的严重程度和预后。