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技术由于内在的不确定性存在风险。技术风险包括技术给社会经济系统带来的风险，即科技哲学层面的技术风险；投资和科研项目开发中的技术风险和技术本身不确定带来损失的可能，即纯粹的技术风险。本文研究的是纯粹的技术风险。
本文首先简要介绍了研究的背景和意义，在研究技术风险评估概念之后回顾了技术风险评估的理论基础，总结了现有技术风险的研究现状。从技术风险管理体系的角度自上而下地研究了技术风险评估的作用及其核心地位。本文将技术风险事件包括技术的先进性、可靠性、适用性和可替代性四类，并提出了风险事件与文献专利计量指标对应的关系。然后，本文提出了利用文献专利计量方法评估技术风险的概念模型和评估流程。然后，基于Gompterz技术S曲线构建了技术风险函数，研究了单技术生命周期技术、跨技术生命周期和长期技术演进过程中的风险曲线变化。最后，通过对超声成像技术的实证研究，验证了本文基于S曲线的技术风险函数和基于文献计量指标的技术风险评估方法具备合理性和一致性。
通过以上研究，本文在较为充分的理论基础上建立了系统的基于文献与专利计量指标的技术风险评估的方法和流程，在理论和实证上验证了风险事件与计量指标，基于GompterZ曲线的技术风险理论模型的科学性和合理性。在基于文献与专利数据的技术风险评估方面做了有益的尝试。