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数字逻辑电路既可以采用基于“AND/OR/NOT”运算的传统布尔(Traditional Boolean,TB)逻辑来实现,也可以采用基于“AND/XOR”运算的Reed-Muller(RM)逻辑来实现。事实上,大多数电路本身就是 TB逻辑和 RM逻辑混合体,即大多数逻辑函数在 TB/RM双逻辑下实现会获得更好的结果。然而,目前几乎所有的EDA工具均基于 TB逻辑发展而来,这意味着利用现有的EDA工具,不能保证最大程度的优化。因此,发展基于双逻辑的综合和优化方法可弥补现有方法的不足。 目前,对双逻辑综合的理论和方法的研究仍处于起步阶段。二元决策图(Binary Decision Diagram,BDD)是一种能够高效表达逻辑函数的方法。由于其结构简洁,表示直观,并且与电路一一对应的特点,被学术界和工业界广泛应用于解决优化问题。本文提出了基于 BDD实现的门级图形表示方法 AXIG以及其在双逻辑综合中的应用,并提出了一种基于 AXIG的双逻辑面积最小化方法: (1) AXIG及其在双逻辑中的应用:针对现有基于 BDD的双逻辑探测和划分方法的缺陷,在 ROBDD的基础上,提出了一种双逻辑门级图形表示方法AXIG(AND/XOR/INV Graph),实现了双逻辑在同一数据结构下的表示。首先从逻辑函数的ROBDD形式出发,根据 BDD的结构特点对 ROBDD进行基于代数分解和布尔分解的切割,通过迭代切割过程将 ROBDD分解为单变量的形式,进而得到逻辑函数的AXIG表示形式。相较其他逻辑表示方法,AXIG在双逻辑综合和优化过程存在明显的优势。 (2)基于AXIG的双逻辑面积优化方法:对逻辑函数的AXIG形式,进一步进行门级双逻辑优化。将逻辑函数的AXIG形式划分成分别适合TB逻辑和适合RM逻辑实现的两部分,再进行逻辑优化,最终获得总体的逻辑函数面积优化效果。实验结果表明,与现有的ABC、BDS等逻辑综合工具相比,本方法有一定优势。