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电光调制广泛的应用在光通信、电光调Q等方面。其中电光调Q在激光雷达、激光测距、激光美容等领域有广泛的应用前景。电光调 Q主要有两种工作方式：一种是退压式电光调Q，一种是加压式电光调Q，这两种电光调Q方式各有优缺点。预偏电光调Q是在加压式电光调Q的基础上进行改进，在实际应用中可以省去一个1/4波片，可以提高激光的输出性能和峰值功率，但是在实际应用中也存在一些问题，在不同的通光方向上，激光的输出情况不一样；Q开关静态关断时少许漏光，光束质量比完全关死时要好。本论文对预偏电光调 Q存在的问题进行了分析。 另外，目前测量晶体电光系数的方法有很多，例如：半波电压法、比较法、干涉法、直接测光强法等。这些测量方法都有一定的不足之处，例如：半波电压法要求激光光源有很好稳定性。干涉法对锁相放大器、防震措施、外部环境、光源的稳定性有一定的要求，同时必须首先测量出晶体的压电系数。比较法需要首先测量出标准样品的电光系数。直接测光强法对激光光源的稳定性要求很高等等，这些方法主要测量加工后的大块晶体。另外，在合成新电光晶体的初始阶段，一般都是小颗粒晶体，检测小颗粒晶体电光系数的方法还处于空白阶段。本论文设计了一种测量晶体电光系数的新方法，该方法利用近光轴电光调制的原理可以测量3LiNbO和磷酸二氢钾（KDP）类晶体的电光系数，具有操作容易、设备简单、测试灵敏、无需防震措施和稳定光源的优点，并且对晶体尺寸大小没有特殊要求，在探索新型电光晶体领域中，有望测量未知小颗粒晶体的电光系数。 论文分为以下几个章节 第一章，介绍了本论文的选题背景。首先介绍了电光调 Q的应用领域和各调 Q方式存在的问题。此外，还介绍了目前测量晶体电光系数方法的优点以及不足之处，并针对这些问题提出了解决方案。 第二章，介绍了近光轴电光调制理论。其中包括：沿光轴时晶体的线性电光效应，近光轴时晶体的线性电光效应以及在正交偏振镜中出射光的干涉强度。 第三章，利用近光轴电光调制的方法进行预偏电光调Q，从而获得脉冲激光。本论文计算出铌酸锂晶体预偏角度为 o3.96，对不同的通光方向激光输出情况不一样和 Q开关静态关断时少许漏光，光束质量比完全关死时要好进行了分析，另外，根据近光轴电光调制的原理，测量了铌酸锂晶体的电光系数。对于3LiNbO和KDP类的晶体，当光的传播方向在感应主轴方向上时，此时的电光效应是线性的，通过加电场和不加电场，来观察干涉环的变化，当干涉环向一定的方向移动?/2时，此时对晶体所加的电压就是晶体的半波电压。根据半波电压计算出铌酸锂晶体的电光系数。 第四章，对本论文工作进行了总结，对下一步工作进行了展望。