ICP-AES法测量铁基、铁镍基合金中低含量的铝

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与通常使用的成分匹配法绘制工作曲线,用以测量待测成分的测量方法不同.本方法采用直接用单质标准绘制工作曲线,同时求出干扰成分对被测成分的校正系数,对被测成分进行校正,进而求出被测组分的含量.用本单位PE-2000DV ICP-OES仪器,研究了常见的钢铁材料中低含量铝的测量方法(0.01%≤Al≤0.50%),在实验中采用加入适当比例的盐、硝混酸溶解试样,而后加入硫酸和磷酸进行发烟,将试样处理成清亮、稳定的待测溶液.实验考察了仪器推荐的前四条分析线,依次为Al396.153nm,308.215nm,394.401nm,237.313nm.实验结果表明,该4条分析线均存在不同的干扰成分,无法全部避开干扰,在进一步的实验中避开有多组分干扰的Al 308.215nm,237.313nm两条分析线.重点研究了Al 396.153nm,有Mo的干扰,Al 394.401 nm有Ni的干扰.实验中采用铝标准溶液绘制工作曲线,求出Mo对Al 394.153nm的校正系数为0.01214.Ni对Al 394.401nm的干扰校正系数为0.0009737.用标准物质验证该方法的准确性,其测量结果经校正后与标准值有一致性(用t检验验证)。
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