【摘 要】
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随着集成电路的规模和密度越来越大,SoC芯片的结构也越来越复杂,嵌入在SoC芯片中的存储器容量和字长各不相同,因此SoC中存储器的测试显得尤为重要。基于面向自测试March C算
【机 构】
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桂林电子科技大学 电子工程学院 桂林 541004
【出 处】
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2007年首届仪表、自动化与先进集成技术大会
论文部分内容阅读
随着集成电路的规模和密度越来越大,SoC芯片的结构也越来越复杂,嵌入在SoC芯片中的存储器容量和字长各不相同,因此SoC中存储器的测试显得尤为重要。基于面向自测试March C算法的基础上,本为提出了对SoC中嵌入式存储器的一种并行测试方案。试验结果表明,在不影响故障覆盖率的基础上,本方案具有节省硬件开销,提高测试效率等优点。
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