【摘 要】
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该文介绍了一种计算机控制的运算放大器内部单元电路损伤试验测试系统，该系统既能测量运放电路整体性能参数在电离辐射环境中的变化，又可以观察电路内部各功能单元电路和MOSFET
【出 处】
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第九届全国核电子学与核探测技术学术年会
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该文介绍了一种计算机控制的运算放大器内部单元电路损伤试验测试系统，该系统既能测量运放电路整体性能参数在电离辐射环境中的变化，又可以观察电路内部各功能单元电路和MOSFET的辐照损伤特性，并且能够对不同功能单元电路的损伤对电路整体性能的影响进行测试，为从内部研究CMOS运算放大器的电离辐射损伤机理提供了有效的手段。
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