论文部分内容阅读
电力电子器件绝缘带电性能的研究
【机 构】
:
西安交通大学
【出 处】
:
第六届全国电介质物理、第二届全国工程电介质学术会议
【发表日期】
:
1991年期
其他文献
该文研究了Al金属化系统中的回流效应,提出了一种全新三层金属化系统抗电迁徙结构,同时对新旧两种结构的金属化系统进行了各种动态应力的电迁徙实验对比,结果显示出新结构在抗电迁