Yield Explorer故障诊断软件的设计与开发

来源 :第七届中国测试学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:mnwang2008
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  随着电路制造工艺的不断加深,芯片故障诊断的难度越来越大。为了较快的对芯片进行诊断,就要借助故障诊断软件的帮助。国内在此领域研究与发展较薄弱,主要依赖于国外厂商的成熟软件。本文所设计的故障诊断软件参考了国外优秀软件的共同特点,同时融入了自己的特色,考虑了新工艺形势下的故障特点。软件支持多种输入文件格式,具有较好的可扩展性,同时便于作为诊断算法的评估平台。
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