【摘 要】
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石笋δ18O 是重要古气候代用指标之一,而年内分辨率δ18O 记录对于捕捉气候突变事件的细节特征极为重要[1].二次离子质谱技术(SIMS)为石笋δ18O的年内分辨率研究提供了新的可
【机 构】
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中国地质大学(武汉)生物地质与环境地质国家重点实验室,武汉,430074中国科学院地质与地球物理研究所,北京,100029
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石笋δ18O 是重要古气候代用指标之一,而年内分辨率δ18O 记录对于捕捉气候突变事件的细节特征极为重要[1].二次离子质谱技术(SIMS)为石笋δ18O的年内分辨率研究提供了新的可能.与常规磷酸盐法相比,SIMS 技术需样量低(仅需消耗约2ng 石笋样品,且剥蚀深度仅为1～2μm),分辨率高(取样步长在20～ 30μm 之间,甚至更低);且其原位分析数据可与其它原位分析指标(如微量元素)比对,更利于各指标的准确解译.但SIMS 技术的氧同位素分析精度(0.2～ 0.3‰)比常规法(＜0.1‰)要低,且即便是极细微的表面电荷平衡和二次离子路径的变化都可能影响仪器的质谱分馏.此外,其对标准物质还有着极高的同质性要求.而石笋样品本身的不致密,也是限制该技术在石笋δ18O 研究应用中的另一原因[2].
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