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交流磁化强度法测量外延YBa<,2>Cu<,3>O<,7-δ>薄膜的传导临界电流密度
【机 构】
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大学电子科学与工程系
【出 处】
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第三届全国超导薄膜和超导器件学术会议
【发表日期】
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1997年期
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