【摘 要】
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忆阻器作为第四种无源基本电路元件,在下一代非易失性存储器、逻辑与神经形态计算领域具有重要应用前景.诸多n型忆阻材料,如TiOx、ZnOx、TaOx和HfOx等已被广泛报道,但p型
【机 构】
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光学与电子信息学院,武汉国家光电实验室,华中科技大学,武汉430074
【出 处】
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TFC`15全国薄膜技术学术研讨会
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忆阻器作为第四种无源基本电路元件,在下一代非易失性存储器、逻辑与神经形态计算领域具有重要应用前景.诸多n型忆阻材料,如TiOx、ZnOx、TaOx和HfOx等已被广泛报道,但p型氧化物材料,如CuOx、CoOx、SnOx,种类较少并未受到足够的关注,其在忆阻器应用中的导电机理也未被清楚解释.我们沉积了与CMOS工艺兼容的Cu2O p型半导体薄膜材料,制备了2×4crossbar结构TiW/Cu2O/Cu忆阻器件阵列.Cu与TiW电极(厚度150nm)采用直流磁控溅射在Ar气氛中制备;Cu2O功能层(厚度50nm)通过直流磁控反应溅射,在Ar:O2=80:20的混合气氛中沉积,不同氩氧流量比会生成不同组分的生成物(Ar:O2=95:5,Cu;Ar:O2=60:40,CuO).XRD测试表明,在2θ=36.3°、42.1°和61.1°存在强衍射峰,分别对应Cu2O材料的(111)、(200)和(220)晶向.
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