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本文在广泛收集、深入分析国产半导体分立器件试验、使用失效模式的基础上，统计得各类半导体分立器件的工作失效模式分布。进而，探讨了各主要失效模式与失效机理之间的关系，为改进国产元器件的可靠性和开展系统“失效模式和效应分析”提供了重要的依据。
国产半导体分立器件的失效模式分布及其机理
【摘 要】
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本文在广泛收集、深入分析国产半导体分立器件试验、使用失效模式的基础上，统计得各类半导体分立器件的工作失效模式分布。进而，探讨了各主要失效模式与失效机理之间的关系，为改
【机 构】
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电子五所(广州)
【出 处】
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第八届全国可靠性物理学术讨论会
【发表日期】
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1999年期
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