ZnO粉末质子辐照损伤效应

• 作 者: 李春东 梁志强 杨德庄 何世禹 施飞舟
• 机 构: 哈尔滨工业大 学空间材料与环境工程实验室,哈尔滨 150001
• 出 处: 中国空间技术研究院第二届空间材料及其应用技术学术交流会
• 发表日期: 2009年期
• 关键词: 粉末 质子辐照 空位型缺陷 性能退化 光谱反射系数 辐照损伤机制 损伤方式 可见光区 光学 辐照作用 电离效应 实验 红外

本文研究了90keV质子辐照作用下ZnO粉末的辐照损伤机制。
实验结果表明：质子辐照下，ZnO粉末光学性能退化主要发生在可见光区，在红外区间ZnO粉末光学性能退化不明显。ZnO粉末的质子辐照损伤方式以电离效应为主，质子辐照后ZnO粉末表面产生大量的氧空位型缺陷(V。**，V。*和V。)。氧空位型缺陷的产生是ZnO粉末光谱反射系数下降的主要原因。