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在0.5GPa、4.0GPa的压力下,从室温到800℃的温度范围内测量了氧化物CeTbO[*v3*]、单稀土氧化物Tb[*v4*]O[*v7*]、CeO[*v2*]和摩尔比为4∶1配比的混合物CeO[*v2*]+Tb[*v4*]O[*v7*]等电阻随温度变化关系。对这四种物质均反应出电阻随温度增加而减半的半导体特征。在压力为0.5GPa,温度高于600℃时发现了混合物CeO[*v2*]+Tb[*v4*]O[*v7*]、氧化物Tb[*v4*]O[*v7*]中电阻变化的起伏。X射线衍射谱表明,对应这一电阻变化,在结构上也出现了变化。分析结果表明,这一变化与Tb[*+*]→Tb[*+*]的价态变化是密切相联的。(本刊录)