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近些年来,随着我国航天科技的日愈发展,航天器设备的特征尺寸越来越小,半导体器件的集成度不断提高,微电子学元件应用的日愈广泛,由宇宙线粒子直接或间接引发的单粒子效应造成的灾害性事件在空间各个区域频繁发生,单粒子效应已成为影响航天器可靠性和寿命的主要因素.本文对单粒子效应的原理进行了阐述并对不同轨道环境下常用航天元件的单粒子翻转发生率进行了模拟和评估.文章可以为反熔丝型FPGA在航天领域中的应用提供参考.