低本底γ谱仪用的NaI（T1）闪烁体

• 作 者: 马朝贵;王志宁;
• 出 处: 全国核电子学与核探测器学术会议
• 发表日期: 1984年期
• 关键词: 闪烁体 γ谱仪 符合法 屏蔽 原料 性能试验 结构分析 闪烁探测器

该文叙述了用于低本底γ谱仪的NaI（T1）闪烁体，共分三部分：一是低本底NaI（T1）闪烁体及其原材料的分析与选择。该闪烁体用作主闪烁探测器；二是环形NaI（T1）闪烁体。该闪烁体用作反符合屏蔽探测器；三是低本底γ谱仪的结构、原理及性能测试。测试结果为：在能量为0.05至2.5Mev范围内，本底计数为37cpm。最低可探测放射性活度为1.7×10/S。康普顿减弱因子（面积比）为4.2倍（井形反符合）。（王太和摘）