采用准轴向渐变折射率透镜的平面光波光路芯片耦合结构

• 作 者: 刘旭;曲舒霆;洪玮;于兵;柏宁丰;肖金标;孙小菡;
• 机 构: 东南大学电子科学与工程学院光子学与光通信研究室 江苏南京 210096
• 出 处: 全国第十三次光纤通信暨第十四届集成光学学术会议
• 发表日期: 2007年期

在楔形光纤(WSF)与平面光波光路(PLC)芯片的对准耦合中,虽然解决了光纤与芯片的模场失配,但石英材料和半导体材料之间的折射率失配会带来严重的反射损耗,渐变折射率(GRIN)结构可以部分补偿这类耦合损耗。本文提出一种准轴向渐变折射率(AGRIN)透镜用于WSF-PLC耦合连接中,和单个径向渐变折射率(RGRIN)透镜、双RGRIN透镜组合方案相比,实验结果表明耦合效率分别提高了7.816dB和2.282dB。WSF-AGRIN-PLC是较优的光纤-芯片耦合方案。