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用Monte-Carlo方法计算正电子湮没寿命谱中的衬底效应
用Monte-Carlo方法计算正电子湮没寿命谱中的衬底效应
来源 :全国第七届正电子湮没学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lnawxu
【摘 要】
:
该文用Monte-Carlo方法模拟计算出Na源的正电子在不同厚度Mylar膜、Ni膜衬底中的湮没几率;得出了衬底效应小于5℅的Mylar膜厚度,说明了对PE、PP样品衬底效应较Si、Fe等样品强。
【作 者】
:
雷海乐
应三丛
张一云
徐家云
【机 构】
:
四川大学物理系
【出 处】
:
全国第七届正电子湮没学术会议
【发表日期】
:
1999年4期
【关键词】
:
正电子湮没寿命谱
衬底效应
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该文用Monte-Carlo方法模拟计算出<22>Na源的正电子在不同厚度Mylar膜、Ni膜衬底中的湮没几率;得出了衬底效应小于5℅的Mylar膜厚度,说明了对PE、PP样品衬底效应较Si、Fe等样品强。
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