【摘 要】
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瞬态电流(IDDT)测试技术自20世纪90年代提出以来受到了人们越来越多的关注.本文提出并设计了一种用于CMOS电路瞬态电流测试的片外IDDT传感器,该传感器能够有效的抑制噪声、准
【机 构】
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华南理工大学材料学院,广东,广州,510610
【出 处】
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中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会
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瞬态电流(IDDT)测试技术自20世纪90年代提出以来受到了人们越来越多的关注.本文提出并设计了一种用于CMOS电路瞬态电流测试的片外IDDT传感器,该传感器能够有效的抑制噪声、准确的提取瞬态电流信号并较好的反应出故障信息,工作频率可达700MHz.
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