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少数载流子寿命是半导体材料的一项重要参数。本文介绍了微波光电导衰减法(μ-PCD)、涡流光电导衰减法(Eddy-PCD)及表面光电压法(SPV)等，目前在光伏领域被广泛采用地无接触、非损伤的少子寿命测试技术。最后对各种方法的优缺点做了讨论。
光伏领域无接触少子寿命测试技术
【摘 要】
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少数载流子寿命是半导体材料的一项重要参数。本文介绍了微波光电导衰减法(μ-PCD)、涡流光电导衰减法(Eddy-PCD)及表面光电压法(SPV)等，目前在光伏领域被广泛采用地无接
【机 构】
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瑟米莱伯,上海,200120
【出 处】
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2009上海半导体材料学术年会
【发表日期】
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2009年12期
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