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本文阐述了电路辐射加固设计的基本原理,分析了光耦隔离反馈方式DC/DC转换器的电离辐射效应,研究了光耦反馈辐射加固电路在抗辐射方面的优点.研究表明：通过合理设置参数,该反馈方式可以有效的避免在辐射环境下光耦的CTR和PWM的基准电压退化对DC/DC转换器输出电压造成的影响.同时仿真分析显示,当累积剂量低于150Krad(Si)时,这种反馈方式较电磁反馈具有更好的抗辐射性能.本文的研究结果可为工程人员设计抗辐射DC/DC转换器提供理论依据.