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苹果隐性损伤高光谱成像无损在线检测

来源 :第二届全国偏振与椭偏测量研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：muniao090908

【作 者】

：

刘燕德 韩如冰 孙旭东 

【机 构】

：

华东交通大学机电工程学院,光机电技术及应用研究所,南昌,330013

【出 处】

：

第二届全国偏振与椭偏测量研讨会

【发表日期】

：

2016年11期

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