2. 您的位置
3. 首页
4. 会议论文
5. Investigation of optical properties of cubic SiC thin films by spectroscopic ellipsometry

Investigation of optical properties of cubic SiC thin films by spectroscopic ellipsometry

来源 :第二届全国偏振与椭偏测量研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：shigaomin

【作 者】

：

Shuai Chen Chin-Che Tin Lingyu Wan Zhe Chuan Feng 

【机 构】

：

CollegeofPhysicsScience&Technology,GuangxiKeyLaboratoryfortheRelativisticAstrophysics,LaboratoryofOp

【出 处】

：

第二届全国偏振与椭偏测量研讨会

【发表日期】

：

2016年11期

下载到本地 , 更方便阅读

下载此文 赞助VIP

声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架

论文部分内容阅读

其他文献

偏振信息测量精度提升方法的研究

会议

星载多角度偏振成像仪非偏通道全视场偏振效应测量及误差分析

会议

成像式偏振测量的关键问题研究

会议

CaBi2Nb2-xWxO9陶瓷的电子跃迁和结构畸变研究

会议

基于Savart偏光镜的静态高通量偏振成像光谱仪研究

会议

Optical properties investigating of HfO2Si by spectroscopic ellipsometry

会议

Studies of optical properties of InGaNGaN layered structure using spectroscopic ellipsometry

会议

基于改进型萨瓦偏光镜的全Stokes成像测偏技术研究

会议

基于激光主动照明的水下四镜头实时偏振成像研究

会议

Study on the optical properties of VO2 grown on TiO2 by SE

会议