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双原子层Bi(111)膜与拓扑绝缘体界面的电子自旋结构研究
双原子层Bi(111)膜与拓扑绝缘体界面的电子自旋结构研究
来源 :中国物理学会2013年秋季学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:michael_zhang_x
【摘 要】
:
近几年来,有理论预测只有几个原子层厚度的Bi(111)薄膜是一种二维拓扑绝缘体。而最近对生长在拓扑绝缘体Bi2Te3衬底上的双原子层Bi(111)的角分辨光电子能谱和扫描隧道显微镜研究证实了它的确具有拓扑特性。
【作 者】
:
苗霖
Z.F.Wang
Wenmei Ming
Feng Liu
姚梦禹
朱峰峰
杨方
宋艳汝
高春雷
刘灿华
钱冬
贾金锋
【机 构】
:
上海交通大学物理与天文系,上海市东川路800号,200240 Department of Mate
【出 处】
:
中国物理学会2013年秋季学术会议
【发表日期】
:
2013年11期
【关键词】
:
拓扑绝缘体
Rashba效应
自旋电子学
自旋分辨ARPES
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近几年来,有理论预测只有几个原子层厚度的Bi(111)薄膜是一种二维拓扑绝缘体。而最近对生长在拓扑绝缘体Bi2Te3衬底上的双原子层Bi(111)的角分辨光电子能谱和扫描隧道显微镜研究证实了它的确具有拓扑特性。
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