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本文利用低温扫描隧道显微镜(4.2K),扫描隧道显微谱(STS)和dI/dV mapping 技术研究了蒸镀于重掺杂Si片上的Pb岛表面的双夹板DyPc2分子.在单层的分子组装中,相邻的DyPc2分子取向成6o夹角,第二层分子则是孤立的分散于组装单层上,双层分子通过接触的两个酞菁环 - 堆积形成共轴结构.实验中得到了DyPc2分子裂解后的碎片,并形成单层的Pc组装,其STM图像明显区别于完整分子,实验分析表明,单层Pc组装结构延续了双夹板分子中下层Pc与表面衬底的吸附取向,测量得到相邻DyPc2分子上下酞菁环之间的夹角均为45o,分子内部并未发生扭转.