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一个新的多通道边界杂质可见光谱系统已成功的应用于EAST托卡马克上;该系统主要用于观测上W偏滤器区域的靶板溅射及杂质行为演化;上外W偏滤器靶板的完全覆盖及ELMy时间分辨率的杂质监测;分析了NBI辅助加热及ELMy H mode对W靶板刻蚀的影响;放电破裂和充Ar辐射偏滤器实验对W杂质溅射的影响。