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硅材料电阻率测量双电测方法的三种组合模式
硅材料电阻率测量双电测方法的三种组合模式
来源 :1998年全国半导体硅材料学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:dlxfmc
【摘 要】
:
该文概述了双电测法的三种组合模式,简要说明了三种组合模式测量电阻率时与材料厚度的关系;并对第一种组合模式(Perloff法)测量电阻率的演变过程作了具体介绍。
【作 者】
:
鲁效明
宿昌厚
【机 构】
:
计量科学研究院
【出 处】
:
1998年全国半导体硅材料学术会议
【发表日期】
:
1998年期
【关键词】
:
硅材料
电阻率测量
电测方法
组合模式
演变过程
简要说明
材料厚度
电测法
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该文概述了双电测法的三种组合模式,简要说明了三种组合模式测量电阻率时与材料厚度的关系;并对第一种组合模式(Perloff法)测量电阻率的演变过程作了具体介绍。
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